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            光学薄膜设计软件OptiLayer

            光学薄膜设计软件OptiLayer

            Optilayer光学薄膜设计软件被认为是计算最快速,功能最强大,界面最友好的薄膜设计软件,软件共包含三个??椋篛ptiLayer薄膜设计主??? OptiChar光学参数计算???,optiRe工程反演???。

            薄膜设计主???OptiLayer

            · 特有的针式优化算法提供了卓越的收敛速度和准确性,Optilayer是唯一一款软件,其所有的优化过程采用的是计算优化函数的梯度和Hesse矩阵的解析算法

            · 能够分析单个目标或者综合分析多个目标,如光谱特征目标、颜色目标和电场强度目标

            · 能够设计和分析各种薄膜:增透膜,高反膜,各种滤光片,分束镜,偏振片,啁啾镜,颜色膜(CIE xyz, CIE L*b*, CIE H0LC, CIE L*u*v*, Hunter Lab) 等

            · 唯一能够精确设计群延迟和群延迟色散特征的薄膜软件

            · 单镜片薄膜优化和多镜片光学系统薄膜优化

            · 对于初学者,精心开发的界面和多种自动模式可以解决最复杂的设计问题,多数设计可以从单层膜开始自动优化

            · 对于经验丰富的设计人员,特殊的设计模式可以满足最复杂的要求,并使您的所有经验有效地应用于各种设计问题

            · 宽带和多波长监控模拟功能

            · 滤光片自动设计界面,只需要输入波长,带宽等参数即可自动优化

            · 能够模拟和分析膜层界面粗糙度模型

            · 针对色散和吸收膜系,能够进行大光谱范围和宽入射角度的分析

            · 薄膜材料折射率和镀膜厚度误差分析

            · 软件每年至少发布一次更新,使软件能够结合最新的镀膜设备和镀膜工艺


            参数计算???OptiChar

            OptiChar是唯一能够准确计算单层膜光学参数的软件???,不管是吸收性薄膜还是非吸收性薄膜,都可以应用软件提供的计算模型,进行折射率和消光系数的准确计算。计算模型有Cauchy model, Selleier model, Hartmann model, n and K model(适用于前面模型无法解决的复杂问题)

            计算??榈闹饕氐悖?/p>

            · 计算膜材料的折射率n和消光系数K,包括金属膜,介质膜,ITO膜等

            · 分析基底材料的n和K

            · 根据膜的透过率和反射率,计算单层膜的厚度

            · 能够从Alilent, Perkin Elmer, Woollam, Hitachi等光谱仪器直接导入光谱数据

            · 能够从Excel表格、TXT文本种选择数据列导入


            工程反演???OptiRe

            OptiRe是为利用分光光度计/椭偏仪测量数据进行工程反演而专门开发的,它为薄膜沉积过程提供了反馈信息,能够发现薄膜沉积过程中膜厚误差的来源,提高工艺水平。OptiRe采用独立的算法,利用多种分析选项,能够从实验数据中提取尽可能多的信息,包括随机误差分析模型、系统误差分析模型、折射率校正模型等。

            OptiRe反演结果以图表的形式给出,这些结果可以是膜厚误差,修正后的折射率和消光系数等。

            动态链接库 OptiReOpt

            OptiReOpt动态链接库(可选安装),不是一个界面,而是一系列可以条用的DLL动态链接库,它可以嵌入到任何支持调用的环境中,比如

             - Microsoft Visual Studio version 6.0 (C++, Visual Basic)

             - Microsoft Visual Studio 2005-2017 (C++, C#, Visual Basic)

             - Embarcadero C++ Builder (any version)

             - Embarcadero Delphi (version 5.0 and higher)

             - LabVIEW version 5.xx and higher

             - Java (at Windows platform)

            OptiReOpt可以用于监控薄膜的沉积过程,与宽光谱膜厚监控仪结合,可以在镀膜的过程,修正设计参数,实现边镀膜边设计。


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